PRESTIGE II

PRESTIGE IIはウェハの欠陥、露光時に発生するウェハー上のムラを同時に検出する半導体のウェハーマクロ検査装置です。カメラアングルを自由に設定することにより、明視野、暗視野の見れる範囲を可変にします。オプション機能により、１度の検査工程で、表裏、両方を検査を可能にし、目視検査から自動検査に切り替えることにより、人為的なミスを防ぎ、作業の効率化につながります。

PRESTIGE V

PRESTIGE Vは既存PRESTIGE IIの廉価版製品。装置のサイズを50%ダウンし、省スペース化しました。カメラアングルは評価段階で設定し、工場出荷時に固定し、ウェハサイズに制限はあるものの検査機能はPRESTIGE IIを継承した廉価版製品になります。

iFocus

CCTECH-STIのOn-The-Fly(OTF™)システムを採用したFocusはウェハーを高精度に検査できるウェハマクロ検査装置です。撮像カメラを２台使用することで、特許取得済みの同時デュアルイメージキャプチャリング技術により、高スループットを維持したまま、異物混入、欠陥部分の検査を可能にします。２D、３D検査を可能にし、半導体チップに形成された接触電極のバンプのコプラナリティの検査にも対応しております。

Hexa　EVO+

Hexa EVO+は半導体ICのパッケージの表裏側面やボールアレイ、リードなどの３Dの外観欠陥も検査し、自動梱包するダイ、ICソータ、ハンドラ外観検査装置になります。多様な検査項目と様々なパッケージに対応することが可能です。

iSort Express

iSort Expressは切り込みウェハー/フィルムフレームからダイを取り出し、ダイの検査をしながらテープ/リール、トレーに移し替える半導体ソーター装置になります。

tSort

tSortは切り込みウェハー/フィルムフレームからダイを取り出し、ダイの検査をしながらテープ/リール、トレーに移し替える半導体ソーター装置になります。可視光と赤外光の検査が可能です。

AT468

AT468は様々な入出力に対応した半導体、ダイ、パッケージソーターになります。チューブ、トレイ、テーピング/リールから取り出し外観検査を行ったのちに、チューブ、トレイ、テーピング/リール梱包する装置になります。

CTA8290D

CTA8290DはCCTECH社の３世代目のアナログミクストテスターになります。電源関連IC、オペアンプ・パワーアンプ、モータードライバーなどのアナログ半導体から、アナログデジタル混載ICまでと幅広い用途に使用可能です。

CTA8280F

CTA8280FはCCTECH社の２世代目のアナログテスターになります。使用用途は電源関連IC、オペアンプ・パワーアンプ、モータドライバーなどのアナログ半導体になります。

CTT3700

CTT3700は2000V/100A対応のMOSFET、ダイオード、電圧レギュレータ、IGBTデバイスのテストに最適です。

CTT3280F

CTT3280FはMOS、ダイオード等のディスクリートパワー半導体のテストに最適です。

P3000

P3000は様々なパワー半導体のICテスターに最適です。

C6シリーズ（P&P）

C6シリーズはPick & Placeタイプのテスター用ハンドラになります。C6430、C6800、C6160の３タイプを用意しております。

C8,C9シリーズ(Gravity)

C8,C9シリーズは重力式のテスター用ハンドラになります。C8シリーズは搬送のみ、C9シリーズは搬送と外観検査もなります。

CSシリーズ(SLT)

CSシリーズはPick & Placeタイプのサブストレート向け、メモリ向けハンドラになります。

CM8200
(指紋センサー)

CM8200は超音波式指紋認証センサーモジュールの外観検査対応のハンドラーになります。

CM2030
（カメラモジュール）

CM2030はイメージセンサーカメラモジュールの外観検査対応のハンドラーになります。

CP12

従来のサイズから小型化を求めた省スペースタイプのプローバーになります。スループットの大幅な改善と光学の技術によるウェハーアライメント、また、テストアプリケーションを介し、プローバー機能とテスト機能に効率よくアクセスすることにより、ソフトウェアの開発期間を大幅に短縮します。