CCTECH JAPAN株式会社（東京都品川区、代表取締役社長：趙 軼、本社：Hangzhou Changchuan Technology Co., Ltd.）は、2026年12月9日（水）から11日（金）まで、東京ビッグサイトにて開催される「SEMICON Japan 2026」に出展いたします。
当社ブースでは、半導体テスタ、ハンドラ、プローバ、ウェハ外観検査装置など、CCTECHが提供する幅広い半導体検査装置およびソリューションをご紹介いたします。

特に、近年の日本市場におけるパワー半導体関連の需要拡大を踏まえ、以下の製品・技術を中心にご紹介いたします。

• DISモジュール：AOI装置向けの最新検査モジュール
• ACリアクトルバーンイン装置：EV向けパワー半導体の試験に対応し、車載関連メーカーでの採用実績を有する装置
• デジタルテスタ：日本国内への納入実績を有する半導体試験装置

各製品の特長や技術、導入事例などについて、弊社担当者より詳しくご説明いたします。