CCTECH JAPAN株式会社(東京都品川区 代表取締役社長：趙 軼 本社:Hanzhou Changchuan Technology Co., Ltd.）は12月13日から15日まで、東京ビッグサイトにて開催されるSEMICON Japan 2023( https://www.semiconjapan.org/jp/about )に出展致します。当日、出展ブース（東京ビックサイト：、ブース番号 3626）にて皆様のご来場を心よりお待ち申し上げます。
当日は半導体テスタ、ハンドラ、プローバから、ウェハの外観検査装置までと、幅広くCCTECHの検査装置のご紹介を致します。また、昨今のパワー半導体の日本市場の需要からブースにおきまして、CCTECH最新のP3000パワー半導体向けテスタのデモ、レンズとレンズ、イメージセンサとレンズのアクティブアライメントを高速化させる３Dチャートを展示致します。
展示ブースでのご紹介は以下の通りとなります。
●オペアンプ、電源ICに最適なアナログテスタ（CTA8280F）
https://www.hzcctech.com/en/ProductList/info.aspx?pid=38021&category=83
●小規模MCU、アナログデジタル混載IC向けテスタ（CTA8290D)
https://www.hzcctech.com/en/ProductList/info.aspx?pid=38020&category=83
●SiC、GaNなどのパワー半導体のテストを可能にするテスタ（P2000/P3000）
https://www.hzcctech.com/en/ProductList/info.aspx?pid=38015&category=82
●RF系デバイス、SoCなどに最適なデジタルテスタ（D6000）
https://www.hzcctech.com/en/ProductList/info.aspx?pid=38011&category=81
●トレー入出力対応、多種類の電気的特性テスト、パッケージ外観検査を１度に行うロータリ、タレットハンドラ、テーピング機（EXIS250/300/400/550/700）
https://www.hzcctech.com/en/ProductList/info.aspx?pid=38036&category=87
●ジャンクション温度テストが可能な3温ATC対応水平式ハンドラ（C6xxxTシリーズ）
https://www.hzcctech.com/en/ProductList/info.aspx?pid=38055&category=113
●3温対応、8"/12"対応プローバ（S2000）
https://www.hzcctech.com/en/ProductList/info.aspx?pid=38066&category=128
●露光工程の塗布ムラを欠陥とともに自動検出するウエハマクロ外観検査装置（Prestige)
https://cctech.co.jp/service/product-1/
●欠陥検査とともにウエハ上のすべてのダイを短時間でミクロレベルの測長を可能にするウエハ外観検査装置（iFocus)
https://www.hzcctech.com/en/ProductList/info.aspx?pid=38008&category=79
★ご来場登録について
https://www.semiconjapan.org/jp/about/pricing-and-register
テスタ、ハンドラ、プローバのすべての装置を１社で一貫してサポートを行うことが出来るCCTECH。中国発、高性能低価格をめざした様々な半導体向け検査装置に対応することが可能。CCTECH JAPANは当日、出展ブースにて皆様のご来場を心よりお待ち申し上げます。