パワー半導体テスタ

CTT3280F

装置説明

CTT3280FはMOS、ダイオード等のディスクリートパワー半導体のテストに最適です。

主な機能

● 13枚のモジュールの搭載が可能
● 1000V/10A、パラメータテスト用に16サイトを準備
● 16個のデバイスを同時にテストすることが可能
● 開発言語にC/C++を採用

※各テスト向けのオプションボードなど詳細は別途お問合せください。