パワー半導体テスタ
CTT3280F

装置説明
CTT3280FはMOS、ダイオード等のディスクリートパワー半導体のテストに最適です。
主な機能
● 13枚のモジュールの搭載が可能
● 1000V/10A、パラメータテスト用に16サイトを準備
● 16個のデバイスを同時にテストすることが可能
● 開発言語にC/C++を採用
※各テスト向けのオプションボードなど詳細は別途お問合せください。
パワー半導体テスタ
装置説明
CTT3280FはMOS、ダイオード等のディスクリートパワー半導体のテストに最適です。
主な機能
● 13枚のモジュールの搭載が可能
● 1000V/10A、パラメータテスト用に16サイトを準備
● 16個のデバイスを同時にテストすることが可能
● 開発言語にC/C++を採用
※各テスト向けのオプションボードなど詳細は別途お問合せください。